OEM SİSTEM BİLEŞENLERİ

I-Photonics logosu, renkli çizgilerden oluşmuş yüksek ve alçak noktalı bir üçgen şeklinde tasarlanmış.

OCP BROADBAND

Kaplama sürecinin geniş bant spektral ölçümler ve analiz yoluyla izlenmesi.

OCP Broadband, farklı ölçüm modları için gelişmiş kontrol imkânları sunar.
Şu modları destekler: geçirgenlik (transmittance), yansıtma (reflectance) ve doğrudan izleme (direct monitor), hem sabit hem de döndürülebilir tabaka (test camı) üzerinde.

Kaplama sürecinin temel izleme modu, döndürülebilir tabaka taşıyıcısına yerleştirilen tabaka üzerinden doğrudan transmisyon ölçümü yapılmasıdır.
Spektrometre, tabaka taşıyıcısının her dönüşünden sonra, tüm çalışma aralığında gerçek kaplama spektrumunu ölçer.
Yazılım algoritması, ölçülen spektrumu hedeflenen optik tasarıma göre analiz eder ve her katman için kaplama sürecinin kesilme (breakpoint) noktalarını belirler.

PLC sistemi ve vakum ekipmanlarının kaplama kontrol üniteleriyle yakın entegrasyon sayesinde, kaplama süreci baştan sona kadar tam otomatik optik kaplama olarak gerçekleştirilebilir.

Sistem yazılımı, çeşitli kaplama tasarım programlarından kaplama tasarımlarının yüklenmesine olanak tanır.
Yazılım arayüzü kullanımı kolaydır ve kaplama süreçlerinin tam otomasyonunu sağlar.
Tam otomasyon, tabaka spektral özelliklerine ve önceden yüklenmiş kırılma indisi dağılımına (refraktif indeks dispersiyonu) dayanarak kaplama kalınlığının süreç sırasında yeniden hesaplanması sayesinde mümkün olmuştur.
Bu teknik, süreç sırasında oluşabilecek hataların en aza indirilmesini sağlar.

Sıçratma yöntemlerine ve vakum kaplama makinelerinin tasarım prensibine bağlı olarak, hataların tamamen ortadan kaldırılması mümkün değildir.
Hata birikimi, optik tasarımın doğru şekilde gerçekleştirilmesini imkânsız hâle getirebilir.
Yeniden optimizasyon (reoptimization) prosedürü, oluşan hataların katman kalınlıkları üzerindeki olumsuz etkilerini, artık katman kalınlıklarının değiştirilmesi yoluyla ortadan kaldırır ve kaplama sonrasında hedeflenen hesaplı spektrumun elde edilmesini garanti altına alır.

Yüksek spektral çözünürlük, gerçek transmisyon değerlerinin ve spektrumun keskin bölgelerindeki düzgün bükülmelerin doğru bir şekilde elde edilmesini sağlar.
Bu da yazılımın kaplama kalınlığı hesaplama hassasiyetini önemli ölçüde artırır.

OCP genişbant cihazı, metal gövdeli, ön panelde güç, işlem, ışık kaynağı, senkronizasyon, tetikleyici ve hata durumu göstergeleri ile iki USB portu ve veri göstergesi bulunuyor.

  • Spektral Alt Aralık (nm): 380–1080
    1080–1650

  • Spektral Çözünürlük (nm): 0.5
    5.0

  • Dalga Boyu Doğruluğu (nm): ± 0.2
    ± 1.0

  • Dalga Boyu Tekrarlanabilirliği (nm)± 0.1
    ± 0.5

  • İzleme Türleri: Kesikli (Doğrudan): Geçirgenlik (Transmission)
    Sürekli (Dolaylı): Geçirgenlik (Transmission), Yansıtma (Reflection), Arka Yüzey Yansıması (Backside Reflection)

  • Dedektör: CMOS (Hamamatsu)

  • Işık KaynağI: DC stabilizasyonlu Kuvars Tungsten Halojen lamba

  • İnce Film Tasarım Yazılımları: OptiLayer, OTF STUDIO, TFCalc, MS Excel, Essential Macleod

  • Veri Aktarımı: OPC UA, Modbus TCP/IP, Talep üzerine diğer protokoller

  • Test Camı Değiştirici: 8 konumlu test camı değiştirici + 4 konumlu soğutmalı kuvars kristal değiştirici (entegre)

OCP SINGLEWAVE

  • Spektral Alt Aralık (nm)
    220–380
    380–1100
    1100–1650
    1650–2500

  • Spektral Çözünürlük (nm)
    0.8
    0.8
    1.6
    3.2

  • Dalga Boyu Doğruluğu (nm)
    ±0.2
    ±0.2
    ±0.4
    ±0.8

  • Dalga Boyu Tekrarlanabilirliği (nm)
    ±0.1
    ±0.1
    ±0.2
    ±0.4

  • İzleme Türleri: Kesikli (Doğrudan): Geçirgenlik (Transmission), Sürekli (Test camı üzerinden Dolaylı): Geçirgenlik (Transmission), Yansıtma (Reflection), Arka Yüzey Yansıması (Backside Reflection)

  • Temel Sinyal Kararlılığı (%):
    ±0.1%/saat
    ±0.1%/saat
    ±0.25%/saat
    ±0.75%/saat

  • Karanlık Gürültü (%):
    ±0.01 @550nm
    ±0.01 @550nm
    ±0.1 @1550nm
    ±1 @2100nm

  • Yabancı Işık (Stray Light) (%):
    0.3 @250nm
    0.05 @550nm
    0.1 @1550nm
    0.1 @2100nm

  • Dahili PC: Var

  • Işık Kaynağı: Döteryum lambası, DC-stabilizasyonlu Kuvars Tungsten Halojen lamba

  • Dedektör
    Si
    Si
    IGA
    IGA

  • İnce Film Tasarım Yazılımları: OptiLayer, OTF STUDIO, TFCalc, MS Excel, Essential Macleod

  • Veri AktarımıOPC UA, Modbus TCP/IP, Talep üzerine diğer protokoller

  • Test Camı Değiştirici: 8 konumlu test camı değiştirici + 4 konumlu soğutmalı kuvars kristal değiştirici (entegre)

Tek dalga CIRCUITPROTECTÖrücü OCP Singlewave modeli, ön panelde güç, işlem, ışık kaynağı, senkronizasyon, tetikleyici, test değiştirici, kilit ve hata göstergeleri ile iki veri bağlantı noktası bulunuyor.

  • Yüksek hızlı veri dijitalleştirme sistemi, minimum ölçüm sürelerinde bile kararlı bir sinyal elde edilmesini sağlar.
    Bu özellik, test camının yüksek hızlı doğrusal hareket ettiği ekipmanlarda bile kaplama sürecinin izlenmesine olanak tanır.

  • Temel sinyal kalibrasyonu ile çalışma, doğrudan kaplama süreciyle bağlantılı olmayan sinyal değişimlerini ortadan kaldırır.
    Geliştirilen matematiksel algoritma, ölçülen verilerin çok düşük hata oranlarıyla yaklaşık değerler oluşturulmasını sağlar.
    Bu sayede katman durdurma noktası (stop layer point) yüzde yüz doğrulukla belirlenebilir ve vakum ekipmanı kontrol sistemine katman durdurma sinyali gönderilebilir.
    Bu yüksek hassasiyet, kaplama sürecinin baştan sona otomatik olarak yürütülmesine olanak tanır.

  • OCP Singlewave, sürecin tüm gereksinimlerine uygun şekilde konfigüre edilebilmesi için geniş bir seçenek yelpazesi sunar.

  • OCP, en yaygın optik tasarım yazılımlarını destekler:

    • OptiLayer

    • OTF STUDIO

    • TFCalc

    • Essential Macleod
      Ayrıca MS Excel üzerinden de veri aktarımı yapılabilir.

  • Oluşturulan optik tasarım, OCP sistemine yüklenir ve burada kaplama yapısının katman katman detayları görüntülenebilir.
    Kullanıcı dostu OCP arayüzü, sürecin hem otomatik hem de manuel modda yönetilmesini sağlayacak tüm görsel bilgileri sunar.